PCT高溫高壓滅菌鍋
PCT高溫高壓滅菌鍋測試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
更新時(shí)間:2024-04-12
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品牌 | 艾思荔/Asli | 溫度范圍 | 100~+135℃ |
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濕度范圍 | 100% R.H | 額定電壓 | 220V |
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
艾思荔PCT高溫高壓滅菌鍋采取的是圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體),、時(shí)間控制器采LED顯示器,采用指針顯示壓力表,微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度,手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)).
高溫高壓滅菌鍋材質(zhì):
1、試驗(yàn)箱尺寸:∮300mmxL500mm,圓型試驗(yàn)箱
2、全機(jī)外尺寸:以實(shí)際為主(W*D*H)立式
3、內(nèi)桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)
4、外桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3161mm)
5、保溫材質(zhì):巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫
6、蒸汽發(fā)室加熱管:鰭片散熱管形無縫鋼管電熱器
高溫高壓滅菌鍋性能:
1、設(shè)定溫度:+100℃~+132℃(飽和蒸氣溫度)
2、濕度范圍:100%蒸氣濕度
3、使用壓力:1、5Kg~3、2Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓4Kg/cm2)
4、時(shí)間范圍:000Hr~999Hr
5、加壓時(shí)間:0、00Kg~1、04Kg/cm2約45分
6、溫度波動(dòng)均勻度:±0、5℃
7、溫度顯示精度:0、1℃
8、壓力波動(dòng)均勻度:±0、2Kg
高溫高壓滅菌鍋附配文件:
1、系統(tǒng)全新保證書,保固書
2、采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體)、
3、時(shí)間控制器采LED顯示器、
4、采用指針顯示壓力表、
5、微電腦P、I、D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度、
6、手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn))、
高溫高壓滅菌鍋機(jī)械結(jié)構(gòu):
1、圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)、
2、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品、
3、精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)、
4、利型packing設(shè)計(jì)使門與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式不同,可延長packing壽命、
5、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示、
6、安全保護(hù):
a、進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無泄露。
b、整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶的使用和安全。
c、反壓門鎖裝置,在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí),試驗(yàn)箱門無法打開。
PCT高溫高壓滅菌鍋用途:
高溫高壓滅菌鍋用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。