三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱經(jīng)銷(xiāo)價(jià)  恒溫恒濕振動(dòng)綜合試驗(yàn)機(jī)   溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī) 

【溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)機(jī) 用途】

綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)主要?dú)夂蛳浜驼駝?dòng)試驗(yàn)臺(tái)的綜合，對(duì)試件施加溫度、濕度、振動(dòng)應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)。與單一因素作用相比，更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動(dòng)的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨(dú)的溫度、濕度振動(dòng)等環(huán)境。

【溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 臺(tái)體 技術(shù)參數(shù)】

※ 激振力: 正弦3000N; 隨機(jī)2400N

※ 頻率范圍: 5Hz ~ 4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機(jī)波.

※ 掃頻方式: 線(xiàn)性、對(duì)數(shù)、正反掃、定頻.

※ 掃頻次數(shù): 1-32767次.

※ 掃頻時(shí)間: 定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線(xiàn).

※ 大加速度: 1000m/s2（ 100個(gè)G，空載）

※ 大速度: 1.6m/s

※ 大位移:25mmp-p（空載.）雙峰值。

※ 振動(dòng)部件有效質(zhì)量: 動(dòng)圈重量3.0kg

※ 大空載:120kg

※ 振動(dòng)方向: 垂直 +水平 

※ 振動(dòng)波形:正弦波、隨機(jī)波、可在屏幕上觀(guān)察控制譜形、波形及信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍

※ 消耗功率 : 15KVA

※ DA-3功率放大器:15KVA ,  尺寸:W60×H170×L8CM

※ 振動(dòng)機(jī)臺(tái)體尺寸:W75×H82×L89CM

【振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱 特點(diǎn)】

※ 振動(dòng)臺(tái)隔板接口

※ CSZ EZT-570i觸摸控制器

※ 以太網(wǎng)監(jiān)測(cè)&控制

※ RS-232，RS-485串行通信接口

※ 無(wú)霧觀(guān)察窗&內(nèi)部照明燈

【三綜合試驗(yàn)箱設(shè)備 滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)】

※ GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法（溫度試驗(yàn)設(shè)備）

※ GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法）

※ GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法）

※ GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（濕熱試驗(yàn)方法）

※ GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法（高溫試驗(yàn)）

※ GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法（低溫試驗(yàn)）

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Environmental testing環(huán)境試驗(yàn)

Mechanical test力學(xué)試驗(yàn)

Paper test紙品試驗(yàn)

Optical instruments光學(xué)儀器

Reliability testing equipment可靠性測(cè)試設(shè)備

Temperature and humidity chamber恒溫恒濕試驗(yàn)箱

Thermal shock test machine冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

Enter type high low temperature test chamber步入式高低溫試驗(yàn)室

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