LED背光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱
LED背光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):1)此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,采用之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測(cè)試,待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。2)采用進(jìn)口微電腦大型液晶LCD(302*240 Dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。4)具有RS-232C通信接口裝置,可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控/編輯/記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)(Time Signal Relay),使用便捷。
更新時(shí)間:2024-04-16
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品牌 | 艾思荔/Asli | 溫度范圍 | -40~+150℃ |
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額定電壓 | 380V | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
加工定制 | 是 |
LED背光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè),測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫,試驗(yàn)出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的認(rèn)同。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品規(guī)格(mm):
型號(hào):TS-49 工作室尺寸:H×W×D 350×400×350 外形尺寸: H×W×D 1800×1400×1400
型號(hào):TS-80 工作室尺寸:H×W×D 400×500×400 外形尺寸: H×W×D 1950×1550×1550
型號(hào):TS-100 工作室尺寸:H×W×D 450×500×450 外形尺寸: H×W×D 1550×1450×1550
型號(hào):TS-150 工作室尺寸:H×W×D 500×600×500 外形尺寸: H×W×D 2000×1600×1700
型號(hào):TS-252 工作室尺寸:H×W×D 600×700×600 外形尺寸: H×W×D 2100×1700×1750
型號(hào):TS-450 工作室尺寸:H×W×D 750×800×750 外形尺寸: H×W×D 2200×1800×1900
冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1)此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,采用之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測(cè)試,待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。
2)采用進(jìn)口微電腦大型液晶LCD(302*240 Dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。
4)具有RS-232C通信接口裝置,可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控/編輯/記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)(Time Signal Relay),使用便捷。
5) 執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2Zone或3Zone之功能。
7)機(jī)器故障時(shí),配有自動(dòng)機(jī)回路及警示號(hào)。
8) 發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可擴(kuò)充:
1、溫度記錄器
2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)
3、RS-485通信接口裝置,可與個(gè)人計(jì)算機(jī)同時(shí)進(jìn)行局域網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)監(jiān)控及記錄??蓴U(kuò)充:液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)
2、溫度自動(dòng)記錄器
3、RS-485多機(jī)版局域網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)監(jiān)控及記錄之軟件。
LED背光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;
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