產(chǎn)品名稱 恒溫恒濕試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 高頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái) 加速度沖擊實(shí)驗(yàn) 氙燈老化試驗(yàn)箱 PCT老化試驗(yàn)機(jī) | 內(nèi)箱尺寸 40*50*40cm 50*60*50cm 60*75*50cm 60*85*80cm 100*100*80cm 即可按客戶要求訂制 | 性能溫/濕度范圍 〖溫度〗-40~+150度 〖濕度〗20%~98%RH 〖溫度波動(dòng)度〗±0.5度 〖濕度波動(dòng)度〗±1%RH 〖升溫時(shí)間〗-40~+150度小于70分鐘 〖降溫時(shí)間〗+20~-40度小于60分鐘; |
以上系列產(chǎn)品為人工模擬海洋性氣候的鹽霧腐蝕試驗(yàn)設(shè)備，可對(duì)電工設(shè)備、金屬材料、制品各種材質(zhì)之表面，經(jīng)油漆、涂料、電鍍、無(wú)機(jī)及有機(jī)皮膜、極處理、防銹油等防蝕處理后，測(cè)試其制品耐腐蝕性。進(jìn)行加速腐蝕性能變化試驗(yàn)。也是人工氣侯環(huán)境“三防”（濕熱、鹽霧、霉菌）試驗(yàn)設(shè)備之一，是研究機(jī)械、國(guó)防工業(yè)、輕工電子、儀器儀表、五金、電鍍、電子、化工、汽車(chē)、航天、通訊等行業(yè)等行業(yè)各種環(huán)境適應(yīng)和可靠性的一種重要試驗(yàn)設(shè)備,同時(shí)也可做醋酸銅試驗(yàn).。以便對(duì)試品在特定的環(huán)境條件下的性能作出分析及評(píng)價(jià)。
電子、電工針對(duì)步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室、振動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)參考：
一、GB/T2423有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成：
一、GB/T2423有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成：
1GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
2GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
3GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
4GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
5GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
6GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
7GB/T2423.7-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
8GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
9GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱
10GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）
11GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求
12GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性
13GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)中再現(xiàn)性
14GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)低再現(xiàn)性
15GB/T2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
16GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉
17GB/T2423.17-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
18GB/T2423.18-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)--試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）
19GB/T2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
20GB/T2423.20-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
21GB/T2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法
22GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
23GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q:密封
24GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射
25GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
26GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)
27GB/T2423.27-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
28GB/T2423.28-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
29GB/T2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
30GB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
31GB/T2423.31-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
32GB/T2423.32-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
33GB/T2423.33-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
34GB/T2423.34-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
35GB/T2423.35-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
36GB/T2423.36-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
37GB/T2423.37-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法
38GB/T2423.38-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法
39GB/T2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法
40GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
41GB/T2423.41-1994電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程風(fēng)壓試驗(yàn)方法
42GB/T2423.42-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
43GB/T2423.43-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動(dòng)（Fc和Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ca）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
44GB/T2423.44-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eg:撞擊彈簧錘
45GB/T2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
46GB/T2423.46-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ef：撞擊擺錘
47GB/T2423.47-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fg:聲振
48GB/T2423.48-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff:振動(dòng)--時(shí)間歷程法
49GB/T2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fe:振動(dòng)--正弦拍頻法
50GB/T2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
51GB/T2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
二、GB2421-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則
三、GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語(yǔ)
四、GB2424
1.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
2.GB/T2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
3.GB/T2424.9-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程長(zhǎng)霉試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T2424.10-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
5.GB/T2424.11-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和鏈接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
6.GB/T2424.12-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則
7.GB/T2424.13-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
8.GB/T2424.14-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程2部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
9.GB/T2424.15-92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
10.GB/T2424.17-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
11.GB/T2424.18-82電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程在清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則
12.GB/T2424.19-84電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程模擬儲(chǔ)存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
13.GB/T2424.20-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則
14.GB/T2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則
15.GB/T2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
16.GB/T2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程水試驗(yàn)導(dǎo)則
17.GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
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